随着 FPGA 设计变得越来越复杂，设计者也在不断探索缩短设计和调试时间的方法。功能强大而又简便易用的 ChipScope? Pro 工具解决方案有助于小化调试和验证所需的时间。为期1天的课程将向您展示调试逻辑和高速设计，进而缩短总设计开发时间的有效方法。此次培训提供动手实验，以便向您展示ChipScope Pro 工具是如何解决先进的验证和调试挑战的。

        ?? 一定的 FPGA 设计及调试经验

        ?? 大化 ChipScope Pro 工具核的性能
        ?? 将对设计的负面时序影响降至低
        ?? 使用可以加强和扩展 ChipScope Pro 工具性能的技术
        ?? 实现和确定远程调试的优势
        ?? 分析、设置和调试高速串行 I/O 设计*
        ?? 利用 Agilent 解决方案克服存储器问题，并执行系统级调试*

        实验 1. 为现有设计添加 ILA 核 - 您将使用内核插入器工具流程来将 ChipScope Pro工具 ILA 核插入到设计中，以便迅速找出和解决简单的逻辑问题。
        实验 2. 添加用于远程监控的 ILA 与 VIO 核 - 您将会将 ICON、ILA 和 VIO 核例示到VHDL 或 Verilog 设计中，并练习监视感兴趣的信号和从外部驱动选择的控制信号。
        实验 3. 方法和技巧 - 该实验将在您探索数据质量鉴定、交叉时钟域分析和过采样技巧的过程中向您展示 ChipScope Pro 工具解决方案的灵活性。
        实验 4. 实现远程调试* - 该实验展示了如何在整个网络范围内使用 ChipScope Pro 工具。您将会连接到其它队伍的电路板上，下载您的比特流，并通过您的机器远程监视其它队伍的电路板。
        实验 5. 高速串行 I/O 调试和验证* - 您将会利用 Xilinx ChipScope Pro 串行 I/O 工具套件在 Virtex?-5 FPGA 内实现 RocketIO? 收发器。您将会为 Virtex-5 XC5VLX50T 器件生成ChipScope Pro 工具 IBERT 设计，并且为 ML505 板定制设计。然后，您将会连接到 ML505 板上的2 个 GTP 上，并且利用ChipScope Pro 分析器工具来控制 GTP 参数和监视其效果。
        实验 6. 插入 Agilent ATC2 测量核，并利用 FPGA 动态探针查看内部活动* - 您将会通过使用 Agilent ATC2 核、FPGA 动态探针和虚拟逻辑分析器来利用外部存储器资源，从而满足存储器需求。
        实验 7. 利用 Agilent FPGA 动态探针进行系统级调试** - 您将会了解如何使用 Agilent解决方案来缩短证实和确定 FPGA 系统内的问题根源所需的时间。